HORIBA原子力-拉曼聯(lián)用系統(tǒng)XploRA Nano概述

將AFM的納米量級(jí)高空間分辨率和拉曼指紋光譜技術(shù)耦合起來，實(shí)現(xiàn)高空間分辨率下物理特性、化學(xué)結(jié)構(gòu)測試。

AFM-拉曼耦聯(lián)配置

HORIBA Scientific拉曼技術(shù)可與掃描探針顯微鏡（SPM）進(jìn)行耦合，構(gòu)建一個(gè)功能強(qiáng)大且靈活的AFM-拉曼平臺(tái)。研究人員可根據(jù)期望的AFM-拉曼工作模式來選擇合適的儀器。
所有具備激光掃描技術(shù)的配置都可以通過對掃描探針上的激光反射進(jìn)行快速成像或者根據(jù)針尖增強(qiáng)拉曼散射信號(hào)對熱點(diǎn)進(jìn)行成像，因而該配置能夠準(zhǔn)確、可靠地將激光定位到SPM探針針尖上。
高通量的光信號(hào)收集和檢測硬件保證在快速掃描的同時(shí)采集每一點(diǎn)的SPM信號(hào)和拉曼光譜。

AFM-拉曼和針尖增強(qiáng)拉曼散射（TERS）

將您的所有需求集成到一個(gè)強(qiáng)大的系統(tǒng)中

我們所提供的解決方案使用直接光路耦合，對其進(jìn)行優(yōu)化以實(shí)現(xiàn)高通量。該平臺(tái)可以把原子力顯微鏡（AFM）、近場光學(xué)技術(shù)（SNOM,NSOM）、掃描隧道顯微鏡（STM）和共焦光學(xué)光譜儀（拉曼和熒光成像）耦合到一臺(tái)多功能的儀器中，以實(shí)現(xiàn)針尖增強(qiáng)拉曼散射（TERS）或共點(diǎn)測量。

結(jié)合納米成像和化學(xué)分析

單層、雙層和三層石墨烯的共點(diǎn)AFM和拉曼成像

● AFM和其他SPM技術(shù)可提供分子級(jí)別分辨率下的形貌、力學(xué)、熱能、電磁場和近場光學(xué)特性。
● 共焦拉曼光譜和成像可提供納米材料在亞微米空間分辨率下的詳細(xì)化學(xué)信息。
● 同步測量的獨(dú)特平臺(tái)，有助于您獲得可靠且位置高度重合的圖像。
● 結(jié)合高性能和易用性，HORIBA將會(huì)根據(jù)您所選擇的SPM制造商提供一個(gè)可靠、全功能的解決方案
● 針尖增強(qiáng)拉曼光譜(TERS)的光學(xué)、機(jī)械和軟件都是經(jīng)過優(yōu)化設(shè)計(jì)的，同時(shí)有HORIBA在拉曼光譜幾十年的經(jīng)驗(yàn)做技術(shù)支持，您可以自信地使用這一技術(shù)。

一個(gè)工具多種可能：AFM-拉曼有助于您提高效率

● 快速找到納米對象
由于納米材料具有特殊的化學(xué)屬性，拉曼峰信號(hào)較強(qiáng)，因此在光學(xué)顯微鏡下不可見的納米材料可以通過超快速拉曼成像進(jìn)行搜索和定位。在找到樣品后，我們可以對感興趣的位置進(jìn)行形貌、機(jī)械、電學(xué)和熱能分析。

● 交叉驗(yàn)證您的數(shù)據(jù)
拉曼光譜可以證實(shí)材料的某些特性，例如前面研究的石墨烯，AFM形貌的對比度較差而難以確定層厚，拉曼則可以從另外一個(gè)角度去獲得相同的信息，此外拉曼還提供更多有關(guān)結(jié)構(gòu)和缺陷的信息，此信息只有具備原子分辨率的AFM才能提供。

● 獲得感興趣納米結(jié)構(gòu)的化學(xué)信息
在表征納米結(jié)構(gòu)時(shí)，有時(shí)僅獲得物理性質(zhì)是不夠的。高分辨的拉曼共焦成像可提供詳細(xì)的化學(xué)成分信息，這是其他SPM傳感器無法實(shí)現(xiàn)的。

● 探索TERS（針尖增強(qiáng)拉曼散射）領(lǐng)域
   TERS（或納米拉曼）可以綜合兩種技術(shù)之優(yōu)勢：可獲得空間分辨率低至2nm（一般低至10nm）的化學(xué)特異性拉曼光譜成像。該技術(shù)可用于表征從納米管到DNA等各種樣品。

多種光學(xué)配置HORIBA的AFM-拉曼平臺(tái)支持多種光學(xué)方案：

底部耦聯(lián)：針對透明樣品

頂部耦聯(lián)：針對共點(diǎn)拉曼或傾斜針尖的TERS

側(cè)向耦聯(lián)：測定不透明樣品的TERS的樶優(yōu)解決方案

可提供多端口和并排配置

HORIBA原子力-拉曼聯(lián)用系統(tǒng)XploRA Nano特點(diǎn)

★ AFM和拉曼同區(qū)域成像

★ 針尖增強(qiáng)拉曼（TERS)

★ AFM光杠桿反饋激光自動(dòng)準(zhǔn)直

★ 可同時(shí)提供上方、側(cè)向耦合光路，均可使用X100高NA物鏡以提高收集效率

★ 高頻掃描頭，對環(huán)境噪聲不敏感