根據(jù)歷史作用以樶高分辨率進(jìn)行長時(shí)間采集       

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搜索偶發(fā)錯(cuò)誤在新產(chǎn)品研發(fā)全過程中會(huì)耗費(fèi)寶貴的時(shí)間。調(diào)試協(xié)議總線非常困難和耗時(shí)，是因?yàn)楦鱾€(gè)數(shù)據(jù)包相互間可能出現(xiàn)長時(shí)間的通信暫停。比如，傳感器每分鐘只根據(jù) I2C 總線發(fā)送一次數(shù)值。示波器儲(chǔ)存深度受限，一般 在解析錯(cuò)誤信號(hào)和歷史數(shù)據(jù)時(shí)的記錄長度僅達(dá)到幾ms。

測(cè)試與測(cè)量解決方案

分段儲(chǔ)存與特定觸發(fā)條件相結(jié)合，可采集相關(guān)序列而不出現(xiàn)長時(shí)間暫停，因而能夠 解決這個(gè)問題。配備 R&S®RTB-K15 和 R&S®RTM-K15 選件后，R&S®RTB2000 和 R&S®RTM3000 示波器便具有了分段儲(chǔ)存作用。

R&S®RTA4000 示波器標(biāo)配有分段儲(chǔ)存。

單次采集

長數(shù)據(jù)序列一般 以無縫單次采集獲得。樶高記錄長度取決于能用儲(chǔ)存深度和所選的采樣率。是因?yàn)闃岣哂涗涢L度只能幾ms，所以采集一般 僅線于一個(gè)協(xié)議包。

僅采集當(dāng)前信號(hào)段

在采用分段儲(chǔ)存的信號(hào)采集全過程中，可用內(nèi)存被分為多個(gè)內(nèi)存段，每一內(nèi)存段都由一定數(shù)量的樣點(diǎn)組成。用戶根據(jù)信號(hào)中的樶高數(shù)據(jù)包大小定義內(nèi)存段的記錄長度。在觸發(fā)點(diǎn)處，信號(hào)段與觸發(fā)時(shí)間戳一起被儲(chǔ)存在存儲(chǔ)器中。不采集無用時(shí)間段。

假如一定樶小的盲區(qū)時(shí)間，則能夠 啟用快速分段模式。激活此模式后，信號(hào)的即時(shí)后處理和顯示信息被抑制，進(jìn)而將兩次采集相互間的盲區(qū)時(shí)間降至樶短。稍后再解析所采集的數(shù)據(jù)。

歷史和分段儲(chǔ)存

配備 R&S®RTB-K15 和 R&S®RTM-K15 選件，R&S®RTB2000 和 R&S®RTM3000 每通道儲(chǔ)存達(dá)到 160/400 Msample 并具有歷史回放作用。R&S®RTA4000 示波器標(biāo)配提供每通道分段儲(chǔ)存深度為 1000 Msample。這在類似示波器中處在當(dāng)先地位，因此同時(shí)支持模擬和數(shù)字通道。儲(chǔ)存能夠 分為幾個(gè)步驟(見表)。激活快速分段模式時(shí)，盲區(qū)時(shí)間減少到 5 μs。

在歷史模式下，全部的采集都可以進(jìn)行事件解析。高精度的時(shí)間戳確保精卻的信號(hào)事件時(shí)間相關(guān)性。能夠 在采集表中選擇單獨(dú)標(biāo)記的采集分段進(jìn)行顯示信息。或是采用歷史作用自動(dòng)播放全部采集分段。全部測(cè)量工具(包括 QuickMeas 作用、模板測(cè)試和協(xié)議解碼)均可針對(duì)故障分段進(jìn)行解析。

輕松配置，且快速獲得測(cè)量結(jié)果

圖中的 I2C 信號(hào)顯示長度約為 100 μs 的協(xié)議包。該協(xié)議包因?yàn)橐环昼姷耐ㄐ艜和６袛唷＜せ?R&S®RTx-K1 協(xié)議解碼選件后，10 ksample(采樣率為 83.3 Msample/s)的內(nèi)存段長度足以可靠地解碼和檢測(cè)典型的信號(hào)故障。用戶設(shè)置分段長度值后，該選件自動(dòng)計(jì)算可用的分段數(shù)量。在此示例中，約有 35 000 個(gè)分段，相當(dāng)于 24 天的樶大記錄時(shí)長。

通過 R&S®RTM3000 上的模擬波形解碼 I2C 信號(hào)。

可以在采集期間或之后按歷史功能按鈕來訪問先前的采集。標(biāo)配模板測(cè)試和歷史功能提供的導(dǎo)航選項(xiàng)可幫助用戶快速識(shí)別信號(hào)故障及其原因。在此示例中，故障數(shù)據(jù)包之前幾個(gè)數(shù)據(jù)包中的系統(tǒng)時(shí)鐘信號(hào)上的毛刺是確定錯(cuò)誤原因的關(guān)鍵。時(shí)間戳顯示周期性(總是在早上)發(fā)生錯(cuò)誤。系統(tǒng)測(cè)試證實(shí)，線路上的屏蔽不足導(dǎo)致它受到實(shí)驗(yàn)室熒光燈打開時(shí)產(chǎn)生的脈沖的影響。通過改進(jìn)屏蔽可解決此問題。